电感耦合等离子体质谱(ICP-MS)特点与应用

电感耦合等离子体质谱(ICP-MS)是20世纪80年代早期发展起来的商品化的分析技术。这项技术已经应用于几乎所有分析领域内痕量、微量和常量元素的测定。该技术的优势包括:

元素覆盖范围宽：包括碱金属、碱土金属、过渡金属和其它金属类金属、稀土元素、大部分卤素和一些非金属元素；

性能好：灵敏度高，背景信号低，检出限极低；

分析速度快：由于四极杆分析器的扫描速度快，每个样品全元素测定只需大约4分钟；

线性范围宽：一次测量线性范围能覆盖9个数量级；

能够提供同位素的信息。

ICP-MS由于在速度、灵敏度、动态范围和元素测量范围中的优势而处于独一无二的地位。能够快速测量高浓度的元素(ppb到ppm级)的特点使其成为AES的可行的替代方法。

同时ICP-MS在许多痕量和超痕量元素测定中超越了石墨炉原子吸收光谱法(GFAAS)的检出能力(ppt级)，ICP-MS能测量几乎所有的样品,并且实现了一次采集完成多元素同时测定，同时提供同位素的信息。

形态分析是ICP-MS发展最快的领域之一，即色谱技术与ICP-MS的联用。其中ICP-MS作为检测器测定样品中元素的化学价态。这些性能有助于实现ICP-MS在所有领域的广泛应用，而且确立了ICP-MS在痕量金属检测技术中的首*要地位。

表 各种原子分析技术比较：                                                                       

质谱图常见干扰

1、光谱干扰
（1）同量异位离子干扰
来源：两种不同元素的质量几乎相同的同位素所造成的干扰。
    如：¹³³In⁺——¹³³Cd^{+
        115}In⁺——¹¹⁵Sn^{+
          40}Ar⁺——⁴⁰Ca⁺
消除：另选测定同位素、采用高分辨质谱仪、计算机软件校正。

（2）多原子分子离子干扰
来源：在离子的引出过程中，由等离子体中的组分与基体或大气中的组分相互作用形成的多原子离子所引起的干扰。
    如：¹⁴N₂⁺——²⁸Si^{+
        14}N¹⁶O¹H⁺——³¹P⁺
消除：扣空白校正、反应/碰撞池技术、另选分析同位素。

（3）氧化物和氢氧化物离子干扰
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